Parametry skaningowego mikroskopu elektronowego S3000N
Dostępne powiększenie: od 15 razy do 100 000 razy
Dostępne napięcie przyspieszające: 0,3 - 30 kV
Teoretyczna rozdzielczość uzyskiwanego obrazu dla SE wynosi 3,5 nm, a dla BSE 5,0 nm.
Wyposażenie dodatkowe:
Napylarka (Sputter Coater) Typ SC7620 firmy Quorum Technologies
Aparat do suszenia w punkcie krytycznym (tzw. CPD – Critical Point Dryer) EM CPD300 firmy Leica
Kontakt:
mgr Magdalena Gawlak - główny specjalista
tel. +48 61 864 9165
e-mail: mgieta.post@home.pl
www.plantquarantine.pl
Instytut Ochrony Roślin -
Państwowy Instytut Badawczy
60-318 POZNAŃ, ul. Władysława Węgorka 20
telefon: +48 61 864 9000, fax: +48 61 867 63 01
e-mail: sekretariat@iorpib.poznan.pl