Instytut Ochrony Roślin - Państwowy Instytut Badawczy

Mikroskop skaningowy

Parametry skaningowego mikroskopu elektronowego S3000N

Dostępne powiększenie: od 15 razy do 100 000 razy

Dostępne napięcie przyspieszające: 0,3 - 30 kV

Teoretyczna rozdzielczość uzyskiwanego obrazu dla SE wynosi 3,5 nm, a dla BSE 5,0 nm.

Wyposażenie dodatkowe:

Napylarka (Sputter Coater) Typ SC7620 firmy Quorum Technologies

Aparat do suszenia w punkcie krytycznym (tzw. CPD – Critical Point Dryer) EM CPD300 firmy Leica

Kontakt:

mgr Magdalena Gawlak - główny specjalista
tel. +48 61 864 9165
e-mail: mgieta.post@home.pl
www.plantquarantine.pl